l 设备简介（Aeris）

X光管产生的X射线，照射样品，会受到晶体中原子的散射，而散射波就像从原子中心发出，每个原子中心发出的散射波类似于源球面波。由于原子在晶体中是周期排列的，这些散射球波之间存在固定的相位关系，会导致在某些散射方向的球面波相互加强，而在某些方向上相互抵消，从而出现衍射现象。根据布拉格方程：2dsinθ=nλ，其中，θ为入射角、d为晶面间距、n为衍射级数、λ为入射线波长，2θ为衍射角。通过测定衍射角来精确分析样品的晶体结构及种类。

l 应用范围

主要用于材料的研究，提供材料分析的晶体成分及含量。

l 主要特点

--高稳定度X射线源提供测量所需的X射线，改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长，调节阳极电压可控制X射线源的强度；

--射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向，通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据；

--衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统，它们的特点是自动化和智能化。

l 注意事项

样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。粉末样品应干燥，粒度一般要求过200目筛，避免颗粒不均匀。测试电压为40KV，电流30~35mA，测试前需确认。